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更多>>Greenray晶振精密微型TCXO的設(shè)計(jì)與性能
來(lái)源:http://m.renderx.cn 作者:康華爾電子 2018年09月05
往年統(tǒng)計(jì)美國(guó)先進(jìn)的精密石英晶體振蕩器制造商的名單中,總是少不了Greenray晶振公司,1961年成立到現(xiàn)在,這家公司已經(jīng)積累了相當(dāng)豐富的有源晶振設(shè)計(jì)量產(chǎn)知識(shí)和資歷。2013年至2016年連續(xù)獲得IDS供應(yīng)商卓越獎(jiǎng),Greenray公司開發(fā)的恒溫晶振,溫補(bǔ)晶振,壓控晶振有著極其穩(wěn)定的性能。將近60年的制造經(jīng)驗(yàn),使Greenray掌握了核心的工藝技術(shù),和生產(chǎn)加工方法,因此在美國(guó)頻率元件領(lǐng)域里,算得上是數(shù)一數(shù)二的。
自從使用石英晶體作為頻率控制裝置以來(lái),已經(jīng)出現(xiàn)了不斷尋求提高它們的溫度穩(wěn)定性。在簡(jiǎn)要回顧了水晶的歷史之后振蕩器溫度補(bǔ)償,本文將描述TCXO的最新技術(shù)溫度補(bǔ)償技術(shù)和相關(guān)的晶體諧振器。
當(dāng)?shù)谝粋€(gè)晶體振蕩器建于20世紀(jì)20年代時(shí),唯一可用的晶體,如X-cut,展示了差的溫度性能。AT-cut晶體的開發(fā)是朝著制造方向邁出的重要一步溫度補(bǔ)償可行的。AT-cut提供了相對(duì)平坦的頻率對(duì)溫度曲線以+25℃為中心。直到20世紀(jì)40年代中期,晶體的老化和溫度特性還不足以使精確的校正變得實(shí)用。泄漏封裝導(dǎo)致老化漂移不良晶體板和晶片設(shè)計(jì)中的缺陷產(chǎn)生具有嚴(yán)重活性下降和耦合的晶體模式[3]。這產(chǎn)生了顯著的頻率擾動(dòng),限制了任何嘗試的有效性補(bǔ)償。但是在石英板設(shè)計(jì)和晶體封裝方面的進(jìn)步,比如冷焊夾具使得可以生產(chǎn)具有相對(duì)平滑的頻率-溫度曲線和老化速率的晶體低至每天1X10-9(或1X10-3ppm)。
圖1.特征溫度曲線族AT切割晶體的基頻
50年來(lái)熱敏電阻/電阻TCXO晶振一直是主流晶體振蕩器溫度補(bǔ)償,產(chǎn)生校正電壓通過一個(gè)或多個(gè)熱敏電阻的網(wǎng)絡(luò)取消電壓控制的頻率與溫度的變化晶體振蕩器。介紹電壓可變電容變?nèi)荻O管隨著負(fù)溫度的提高系數(shù)熱敏電阻使其成為可能補(bǔ)償晶體的精度更高。早在1961年,補(bǔ)償比就更大了超過100比1。這個(gè)會(huì)表示具有峰-峰偏差的晶體可以補(bǔ)償40ppm的溫度達(dá)到0.4ppm的水平。今天,兩個(gè)數(shù)量級(jí)的比率約為極限熱敏電阻/電阻補(bǔ)償雖然通過改進(jìn)的自動(dòng)化系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了這一水平和計(jì)算機(jī)分析能力。但即使在今天,實(shí)現(xiàn)優(yōu)于0.5ppm的穩(wěn)定性也需要多次使用至少三個(gè)熱敏電阻進(jìn)行溫度運(yùn)行和重復(fù)網(wǎng)絡(luò)調(diào)整。一些嘗試使用電阻調(diào)整或熱敏電阻靈敏度的數(shù)字調(diào)整自動(dòng)完成補(bǔ)償過程已經(jīng)取得了一定的成功,但這些配置無(wú)法輕松集成為小型包裝尺寸要求。
到20世紀(jì)70年代后期,集成電路技術(shù)的進(jìn)步使得實(shí)現(xiàn)補(bǔ)償系統(tǒng)變得切實(shí)可行采用模數(shù)轉(zhuǎn)換和固態(tài)存儲(chǔ)器。雖然實(shí)現(xiàn)了根據(jù)今天的標(biāo)準(zhǔn),數(shù)字溫補(bǔ)晶振的性能優(yōu)于0.1ppm幾家公司,包括Rockwell Collins和Greenray Industries。其他數(shù)字實(shí)現(xiàn)有多年來(lái)一直在開發(fā),許多具有嵌入式計(jì)算能力,以方便校準(zhǔn)和系統(tǒng)操作。一些采用精心設(shè)計(jì)的溫度測(cè)量方案,如雙模晶體自調(diào)節(jié)傳感。盡管這些設(shè)計(jì)中的一些實(shí)現(xiàn)了0.05ppm或更高的溫度穩(wěn)定性,但它們是更大且相對(duì)復(fù)雜的組件,通常具有寄生噪聲產(chǎn)生問題。
隨著大規(guī)模集成的能力不斷擴(kuò)大,可以包括更多的溫度補(bǔ)償?shù)絾蝹€(gè)IC所需的功能。 這導(dǎo)致了當(dāng)前這一代ASIC允許構(gòu)建僅具有兩個(gè)組件的精密模擬TCXO:ASIC加上石英晶體諧振器。為TCXO應(yīng)用而出現(xiàn)的最新器件是結(jié)合精度的復(fù)雜的大規(guī)模IC模擬功能,非易失性數(shù)字存儲(chǔ),變?nèi)荻O管和RF振蕩器電路。
ASIC的核心是多項(xiàng)式函數(shù)發(fā)生器引擎。目標(biāo)是產(chǎn)生溫度變化電壓將匹配壓控晶振電壓,以保持振蕩器頻率精確地符合標(biāo)稱值在整個(gè)溫度范圍內(nèi)。從線性溫度傳感器開始,然后使用一系列模擬乘法,模擬高階多項(xiàng)式的系數(shù)。此功能描述為:
其中a0到a5是要生成的多項(xiàng)式的系數(shù),T是當(dāng)前溫度,Ti是晶體的拐點(diǎn)溫度(晶體曲線相對(duì)于中心的溫度)下轉(zhuǎn)彎點(diǎn)和上轉(zhuǎn)彎點(diǎn),通常在+26°C左右)。校準(zhǔn)變量的調(diào)整范圍以覆蓋AT切割的晶體角度隨溫度的變化。所有溫度參考晶體拐點(diǎn)溫度。系數(shù)值存儲(chǔ)為數(shù)字芯片上非易失性寄存器中的數(shù)字。雖然理想的AT貼片晶振應(yīng)遵循三階曲線,電路和晶體中的非線性要求包括更高階的項(xiàng)以獲得a匹配所需的補(bǔ)償電壓曲線。晶體拐點(diǎn)溫度在匹配中很重要,曲線是必須可編程的變量之一,以便使用更廣泛的晶體。一些微型帶狀晶體可能具有高達(dá)40°C的彎曲度,這可以實(shí)現(xiàn)精確的曲線擬合難。
除函數(shù)發(fā)生器外,所有其他振蕩器功能都包含在最新的芯片中。一個(gè)精度低壓差(LDO)穩(wěn)壓器為所有片上電路供電。因?yàn)榉€(wěn)定必須保持的電壓,以達(dá)到所需的頻率穩(wěn)定性,精確的參考電壓來(lái)源至關(guān)重要??梢缘椭?2.7Vdc的操作。晶體振蕩器驅(qū)動(dòng)電路是片上可編程晶振驅(qū)動(dòng)電流,以容納a晶體阻抗和頻率范圍。調(diào)節(jié)振蕩器頻率的電壓可變電容器通常將其實(shí)現(xiàn)為MOS結(jié)構(gòu)而不是傳統(tǒng)的摻雜結(jié)型二極管。 一個(gè)由于器件的低電壓操作,需要相對(duì)高的調(diào)諧靈敏度,并且可能超過50ppm/V。
自從使用石英晶體作為頻率控制裝置以來(lái),已經(jīng)出現(xiàn)了不斷尋求提高它們的溫度穩(wěn)定性。在簡(jiǎn)要回顧了水晶的歷史之后振蕩器溫度補(bǔ)償,本文將描述TCXO的最新技術(shù)溫度補(bǔ)償技術(shù)和相關(guān)的晶體諧振器。
當(dāng)?shù)谝粋€(gè)晶體振蕩器建于20世紀(jì)20年代時(shí),唯一可用的晶體,如X-cut,展示了差的溫度性能。AT-cut晶體的開發(fā)是朝著制造方向邁出的重要一步溫度補(bǔ)償可行的。AT-cut提供了相對(duì)平坦的頻率對(duì)溫度曲線以+25℃為中心。直到20世紀(jì)40年代中期,晶體的老化和溫度特性還不足以使精確的校正變得實(shí)用。泄漏封裝導(dǎo)致老化漂移不良晶體板和晶片設(shè)計(jì)中的缺陷產(chǎn)生具有嚴(yán)重活性下降和耦合的晶體模式[3]。這產(chǎn)生了顯著的頻率擾動(dòng),限制了任何嘗試的有效性補(bǔ)償。但是在石英板設(shè)計(jì)和晶體封裝方面的進(jìn)步,比如冷焊夾具使得可以生產(chǎn)具有相對(duì)平滑的頻率-溫度曲線和老化速率的晶體低至每天1X10-9(或1X10-3ppm)。
圖1.特征溫度曲線族AT切割晶體的基頻
50年來(lái)熱敏電阻/電阻TCXO晶振一直是主流晶體振蕩器溫度補(bǔ)償,產(chǎn)生校正電壓通過一個(gè)或多個(gè)熱敏電阻的網(wǎng)絡(luò)取消電壓控制的頻率與溫度的變化晶體振蕩器。介紹電壓可變電容變?nèi)荻O管隨著負(fù)溫度的提高系數(shù)熱敏電阻使其成為可能補(bǔ)償晶體的精度更高。早在1961年,補(bǔ)償比就更大了超過100比1。這個(gè)會(huì)表示具有峰-峰偏差的晶體可以補(bǔ)償40ppm的溫度達(dá)到0.4ppm的水平。今天,兩個(gè)數(shù)量級(jí)的比率約為極限熱敏電阻/電阻補(bǔ)償雖然通過改進(jìn)的自動(dòng)化系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了這一水平和計(jì)算機(jī)分析能力。但即使在今天,實(shí)現(xiàn)優(yōu)于0.5ppm的穩(wěn)定性也需要多次使用至少三個(gè)熱敏電阻進(jìn)行溫度運(yùn)行和重復(fù)網(wǎng)絡(luò)調(diào)整。一些嘗試使用電阻調(diào)整或熱敏電阻靈敏度的數(shù)字調(diào)整自動(dòng)完成補(bǔ)償過程已經(jīng)取得了一定的成功,但這些配置無(wú)法輕松集成為小型包裝尺寸要求。
到20世紀(jì)70年代后期,集成電路技術(shù)的進(jìn)步使得實(shí)現(xiàn)補(bǔ)償系統(tǒng)變得切實(shí)可行采用模數(shù)轉(zhuǎn)換和固態(tài)存儲(chǔ)器。雖然實(shí)現(xiàn)了根據(jù)今天的標(biāo)準(zhǔn),數(shù)字溫補(bǔ)晶振的性能優(yōu)于0.1ppm幾家公司,包括Rockwell Collins和Greenray Industries。其他數(shù)字實(shí)現(xiàn)有多年來(lái)一直在開發(fā),許多具有嵌入式計(jì)算能力,以方便校準(zhǔn)和系統(tǒng)操作。一些采用精心設(shè)計(jì)的溫度測(cè)量方案,如雙模晶體自調(diào)節(jié)傳感。盡管這些設(shè)計(jì)中的一些實(shí)現(xiàn)了0.05ppm或更高的溫度穩(wěn)定性,但它們是更大且相對(duì)復(fù)雜的組件,通常具有寄生噪聲產(chǎn)生問題。
隨著大規(guī)模集成的能力不斷擴(kuò)大,可以包括更多的溫度補(bǔ)償?shù)絾蝹€(gè)IC所需的功能。 這導(dǎo)致了當(dāng)前這一代ASIC允許構(gòu)建僅具有兩個(gè)組件的精密模擬TCXO:ASIC加上石英晶體諧振器。為TCXO應(yīng)用而出現(xiàn)的最新器件是結(jié)合精度的復(fù)雜的大規(guī)模IC模擬功能,非易失性數(shù)字存儲(chǔ),變?nèi)荻O管和RF振蕩器電路。
ASIC的核心是多項(xiàng)式函數(shù)發(fā)生器引擎。目標(biāo)是產(chǎn)生溫度變化電壓將匹配壓控晶振電壓,以保持振蕩器頻率精確地符合標(biāo)稱值在整個(gè)溫度范圍內(nèi)。從線性溫度傳感器開始,然后使用一系列模擬乘法,模擬高階多項(xiàng)式的系數(shù)。此功能描述為:
其中a0到a5是要生成的多項(xiàng)式的系數(shù),T是當(dāng)前溫度,Ti是晶體的拐點(diǎn)溫度(晶體曲線相對(duì)于中心的溫度)下轉(zhuǎn)彎點(diǎn)和上轉(zhuǎn)彎點(diǎn),通常在+26°C左右)。校準(zhǔn)變量的調(diào)整范圍以覆蓋AT切割的晶體角度隨溫度的變化。所有溫度參考晶體拐點(diǎn)溫度。系數(shù)值存儲(chǔ)為數(shù)字芯片上非易失性寄存器中的數(shù)字。雖然理想的AT貼片晶振應(yīng)遵循三階曲線,電路和晶體中的非線性要求包括更高階的項(xiàng)以獲得a匹配所需的補(bǔ)償電壓曲線。晶體拐點(diǎn)溫度在匹配中很重要,曲線是必須可編程的變量之一,以便使用更廣泛的晶體。一些微型帶狀晶體可能具有高達(dá)40°C的彎曲度,這可以實(shí)現(xiàn)精確的曲線擬合難。
除函數(shù)發(fā)生器外,所有其他振蕩器功能都包含在最新的芯片中。一個(gè)精度低壓差(LDO)穩(wěn)壓器為所有片上電路供電。因?yàn)榉€(wěn)定必須保持的電壓,以達(dá)到所需的頻率穩(wěn)定性,精確的參考電壓來(lái)源至關(guān)重要??梢缘椭?2.7Vdc的操作。晶體振蕩器驅(qū)動(dòng)電路是片上可編程晶振驅(qū)動(dòng)電流,以容納a晶體阻抗和頻率范圍。調(diào)節(jié)振蕩器頻率的電壓可變電容器通常將其實(shí)現(xiàn)為MOS結(jié)構(gòu)而不是傳統(tǒng)的摻雜結(jié)型二極管。 一個(gè)由于器件的低電壓操作,需要相對(duì)高的調(diào)諧靈敏度,并且可能超過50ppm/V。
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